dodaj do ulubionych  |  poleć znajomym  |  Zaloguj się
www.wydawnictwopw.pl
szukaj
Podręczniki Skrypty Preskrypty Monografie Prace naukowe Inne
 Kierunki
TYTUŁY:  A|B|C|D|E|F|G|H|I|J|K|L|M|N|O|P|Q|R|S|T|U|V|W|X|Y|Z
AUTORZY:  A|B|C|D|E|F|G|H|I|J|K|L|M|N|O|P|Q|R|S|T|U|V|W|X|Y|Z
WYDAWNICTWA:  OWPW | Wydawnictwa uczelniane | Inne wydawnictwa
Twój koszyk Twój koszyk

Karta pozycji
Cena: 13.00 zł
Tematyka pracy naukowej:

Quantitative X-ray Microanalysis Beyond the Resolution of the Method (Ilościowa mikroanaliza rentgenowska poza przestrzenną zdolnością rozdzielczą metody)

Wydawnictwo: OWPW

W monografii zaprezentowa­no metody korekcji ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw i układów wielowarstwowych o grubości od kilku nanometrów wzwyż.

Monografia dedykowana jest użytkownikom metody mi­kroanalizy rentgenowskiej, zwłaszcza tych dziedzin nauki i techniki, w których opracowuje się i wytwarza nowe materiały (inżynieria materiałowa, elek­tro­nika, optyka, fizyka, chemia). Może stanowić pomoc w ba­daniach praktycznych, zwią­za­nych z kontrolą jakości ma­te­riałów i wyrobów oraz oce­ną ich degradacji, a także w kon­troli zanieczyszczeń śro­do­wi­ska, geo- i kosmochemii, eks­per­tyzach sądowych itp. Stanowi również podręcznik dla studentów i doktorantów w dziedzinie inżynierii ma­teriałowej, metalurgii, fizyki i chemii.

 

 

 

 

Rok: 2009
Stron: 136
ISBN: 978-83-7207-811-7
Spis treści:

Zapowiedzi Nowości Pełna oferta www
 Wydziały
 Kontakt
Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej

ul. Polna 50
00-644 Warszawa

(c) 2006 Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej

Opracowanie Prekursor