dodaj do ulubionych  |  poleć znajomym  |  Zaloguj się
www.wydawnictwopw.pl
szukaj
Podręczniki Skrypty Preskrypty Monografie Prace naukowe Inne
 Kierunki
TYTUŁY:  A|B|C|D|E|F|G|H|I|J|K|L|M|N|O|P|Q|R|S|T|U|V|W|X|Y|Z
AUTORZY:  A|B|C|D|E|F|G|H|I|J|K|L|M|N|O|P|Q|R|S|T|U|V|W|X|Y|Z
WYDAWNICTWA:  OWPW | Wydawnictwa uczelniane | Inne wydawnictwa
Twój koszyk Twój koszyk

Karta pozycji
Cena: 28.00 zł
Tematyka pracy naukowej:

Współczesna mikroanaliza rentgenowska

Wydawnictwo: OWPW
W książce opisano procesy oddziaływania elektronów z materiałem próbki oraz scharakteryzowano mikroobjętość określającą przestrzenną rozdzielczość mikroanalizy. Omówiono współcześnie stosowane metody detekcji promieniowania X oraz podstawowe techniki mikroanalizy. Określono optymalne warunki prowadzenia analiz oraz ich możliwości i ograniczenia. Przedstawiono standardowe metody korekcji stosowane w ilościowej mikroanalizie rentgenowskiej elementów mikrostruktury próbki o wymiarach większych od wymiarów krytycznych sfer wzbudzenia promieniowania X oraz opisano zasady ustalania procedury eksperymentalnej, zapewniającej uzyskanie wysokiej dokładności analiz. Uwzględniono specyfikę analizy długofalowego promieniowania X, szczególnie pierwiastków lekkich (Z<11). Przedstawiono niestandardowe metody analizy ilościowej, które powinny być stosowane w szczególnych przypadkach.
 
Książka stanowi istotną pomoc naukową dla studentów i doktorantów z zakresu inżynierii materiałowej, metalurgii, fizyki, chemii oraz kierunków pokrewnych, a także specjalistów wykorzystujących w swoich badaniach mikroanalizę składu chemicznego materiałów. Trudne zagadnienia teoretyczne zostały przedstawione w sposób przystępny i łatwy do zrozumienia nawet przez średnio zaawansowanych studentów.
 
Rok: 2016
Stron: 122
ISBN: 978-83-7814-597-4
Spis treści:

Zapowiedzi Nowości Pełna oferta www
 Wydziały
 Kontakt
Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej

ul. Polna 50
00-644 Warszawa

(c) 2006 Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej

Opracowanie Prekursor