Quantitative X-ray Microanalysis Beyond the Resolution of the Method (Ilościowa mikroanaliza rentgenowska poza przestrzenną zdolnością rozdzielczą metody)

W monografii zaprezentowa­no metody korekcji ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw i układów wielowarstwowych o grubości od kilku nanometrów wzwyż.

Monografia dedykowana jest użytkownikom metody mi­kroanalizy rentgenowskiej, zwłaszcza tych dziedzin nauki i techniki, w których opracowuje się i wytwarza nowe materiały (inżynieria materiałowa, elek­tro­nika, optyka, fizyka, chemia). Może stanowić pomoc w ba­daniach praktycznych, zwią­za­nych z kontrolą jakości ma­te­riałów i wyrobów oraz oce­ną ich degradacji, a także w kon­troli zanieczyszczeń śro­do­wi­ska, geo- i kosmochemii, eks­per­tyzach sądowych itp. Stanowi również podręcznik dla studentów i doktorantów w dziedzinie inżynierii ma­teriałowej, metalurgii, fizyki i chemii.